我司技术总监吕济明受邀参加2023智能驾驶安全技术专题论坛并作专题报告 |
发布时间:2023-07-04 09:53:55 | 浏览次数: |
7月1-3日,由国家自然科学基金委员会信息科学部和中国自动化学会共同主办的“2023中国智能车大会暨国家智能车发展论坛”在广州南沙滨海国际会议中心召开,我司技术总监吕济明受工业和信息化部电子第五研究所邀请,出席智能驾驶安全技术专题论坛并做基于《整车交通环境在环系统的智能驾驶测试技术研究》报告。 本届大会以“智能交互 驱动未来”为主题,郑南宁、张宏科、蒋昌俊、张平等数位院士齐聚,共商智能车技术及产业发展大计,网联智能车、无人驾驶安全等多个专题论坛和智能车展览会,搭建互联互通的全产业链生态交流平台。来自智能车及相关领域学术界、产业界的同仁500余人齐聚一堂,展开思想碰撞和深入交流,共同展望智能车领域前沿趋势,探索科技赋能产业升级之路。 其中,在7月3日开展的智能驾驶安全技术专题论坛上,我司技术总监吕济明发表《基于整车交通环境在环系统的智能驾驶测试技术研究》的主题报告。 本次我司主题报告摘要: ·介绍智能驾驶安全性测试所面临的问题和挑战; ·现有测试方法技术存在的不足; ·整车交通环境在环系统的构成原理及对现有测试技术的补充; ·整车交通环境在环系统在解决预期功能安全测试验证中的应用现状及未来趋势。 吕济明总监在报告中表示,随着行业的发展,自动驾驶系统从只需满足L2级别的特定功能要求,后续扩展到有条件自动驾驶(所谓的“L3”)或高度自动驾驶(L4)系统等需要满足各类场景的功能需求,会导致汽车测试与验证的场景数量以几何级数增加,且实际场景因天气、道路、交通参与者、工况等因素的多变而具有复杂性、随机性和不确定性,测试与验证的复杂度也会增加很多,也对测试体系发起了很大的挑战。 如何利用有限的室内空间进行测试,同时又构建更丰富的环境和场景,有效解决高等级自动驾驶测试验证认证中的痛点?
报告中提到,我司自主研发的整车交通环境在环系统解决方案(VTEHIL),集成了现有成熟的设备和测量技术,能显著提升Euro NCAP和C-NCAP场景测试的效率,并灵活实现由多个交通参与者和要素构成的复杂、危险场景。 目前,VTEHIL方案已在清华大学车辆与运载学院、国内某著名OEM等多个客户群体已逐步实现商业化落地。 |
上一篇:屡获殊荣丨上海测迅荣获“2023年度中国智能网联汽车创新成果奖” 下一篇:测迅总经理李晓英受邀出席智能网联汽车产业新趋势与未来发展主题论坛并参与圆桌对话 |